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日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率（多層膜厚度，光學常數(shù)） 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)（紫外至近紅外） 區(qū)域傳感器的安全機制 易于分析向?qū)В鯇W者也能夠進行光學常數(shù)分析 獨立測量頭對應各種inline客制化需求 支持各種自定義
